灿芯半导体第一颗40nm 芯片在中芯国际验证成功
融合网|DWRH.net 2011年06月21日报道，灿芯半导体（上海）有限公司与中芯国际集成电路制造有限公司(简称“中芯国际”)今天共同宣布灿芯半导体第一颗 40nm 芯片在中芯国际一次性流片验证成功。
灿芯半导体与新思科技有限公司（Synopsys, Inc.,）及中芯国际深度合作，使灿芯自主研发的 40nm 芯片一次性流片成功。这颗芯片集成了 Synopsys DesignWare® 嵌入式存储器和逻辑库，以及中芯国际自主研发的 PLL、I/O 等关键 IP 部件，成功验证了灿芯半导体在 40nm 工艺线上的前端和后端设计流程。
灿芯半导体总裁兼首席执行官职春星博士说：“灿芯半导体不仅拥有高素质的设计团队，而且一直以严谨的态度对待每次设计，这使得我们的验证能够一次性成功。40nm 芯片的验证成功，对灿芯半导体来说是一次飞跃，标志着灿芯已经跻身于世界先进设计服务公司行列。”
新思科技中国区总经理李明哲表示：“新思科技与灿芯半导体这一次成功合作，体现了我们为确保加速客户的设计流片过程做出的努力。灿芯半导体 40nm 芯片的验证成功，不仅证明了新思科技的参考设计流程与中芯国际 40nm 工艺线的成功结合，同时也展示了灿芯半导体深厚的设计实力。”
中芯国际商务长季克非说：“很高兴看到灿芯半导体 40nm 芯片在中芯国际验证成功。这次三方共同努力的成果证明了中芯国际 40nm 先进工艺平台已具备支持尖端设计项目的能力。希望灿芯半导体继续与客户紧密合作，早日在 40nm 制程上实现量产。”
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