低压高分辨率FE-SEM系统增添完全集成的EDS功能
2015年3月6日，某公司日前宣布，其最新型场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）――8500B即将上市。该显微镜是一款技术领先的紧凑型低电压FE-SEM（场发射扫描电子显微镜），可以为科学家提供强大的能谱分析功能。
据融合网|DWRH.net获悉，这款场即插即用型发射扫描电子显微镜的安装方式非常简单，只需连接交流电源插座即可使用，是各类实验室的理想选择。紧凑型 8500B 的图像分辨率可与更大型、更高档的FE-SEM相媲美。
该显微镜系统具有完全集成的硅漂移X射线探测器、数字多通道分析仪和直观的软件界面，因此研究人员可以使用EDS对任意点、连续线扫描结果以及自定义区域的定量元素面分布进行分析，可以探测从碳到镅的所有元素。
该显微镜系统不仅能够实时分析和显示 EDS 结果，还能导出数据以供研究人员进行后续的离线分析。是德科技专利的事件流谱图成像技术使用户可以保存每个像素的完整谱线，用于日后的分析和显示。动态元素面分布功能使用户可以实时选择或编辑元素，并可在谱图采集的同时对元素和处理参数进行选择和调整。
该显微镜系统提供多种低电压成像技术，不仅能够增强表面对比度，还能观察各种纳米结构材料的纳米级特性，例如：聚合物、薄膜、生物材料以及在任何基底（甚至是玻璃）上的其他对电子束辐照比较敏感的样品。这种独特的紧凑型全静电场透镜和电子镜筒设计使其一致性和可重复性得到了更好的保证，因此用户无须再经常对电子镜筒进行调整。
此外，该显微镜系统为低电压工作提供优化的连续可调整加速电压，这使得不导电样品表面镀金的需求得到最大程度的减少。由软件自动程控的X/Y/Z样品台使样品导航变得更为方便简单。
(责任编辑：方向)
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