多通道比特误码率测试仪能加速高速数字设备开发与设计验证
2016年1月19日，K科技公司宣布推出一款基于14插槽AXIe主机的多通道比特误码率测试仪解决方案，适用于多路测试。
电子设备与系统不断增加的复杂性，更高的数据速率，使这些设备的测试面临更多挑战。当速率较低时，单路测试即可满足要求。但是，如果数据速率较高，工程师可能会遇到更多的串扰问题。因此，针对不同干扰源和干扰信号应用多路测试就变得十分重要。
例如PCIe® 3具有高达16个差分8 Gb/s通道，还有10Gb/s PON、40 GbE和100 GbE，要求4 至10 个10Gb/s 通道。在测试设置中广泛使用射频开关切换会增加信号的额外损耗和反射。工程师现在使用新的这款多通道比特误码率测试仪，无需再使用这些射频开关。
据融合网|DWRH.net获悉，14插槽AXIe主机支持从4通道扩展至10通道，这意味着主机能够同时有效支持最多8个PCIe通道进行ASIC测试。其他应用包括内含多个光网络单元（ONU）的多通道无源光网络（PON）系统测试。
新的多通道比特误码率测试仪提供了面向每个通道的集成的抖动注入、8分接去加重和可调的码间干扰（ISI）功能。在分析仪方面，每个通道都拥有时钟恢复和CTLE。高集成度可以帮您节省占地面积，提高测试结果的可重复性。
(责任编辑：方向)
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