密码芯片专家齐聚深圳探讨密码芯片测评技术(2)
丁津泰教授介绍了国外对硬件的攻击和防御以及对未来会怎么样发展的一些看法;国民技术张翌维博士做题为“密码芯片分析中的关键技术”报告，并现场演示智能卡芯片的毛刺注入分析和安全芯片的激光错误注入分析，展示了国民技术对安全芯片安全性分析技术的强大实力;崔占华博士介绍了“我国智能卡安全认证情况”，对国内EAL认证状况，存在问题以及未来发展趋势进行了深入探讨;上海市信息安全测评认证中心陈清明总监从芯片EAL测评国家标准出发，探讨了芯片安全性检测与分析技术与标准之间的对应关系;艾特赛克信息技术有限公司刘岩总经理深入介绍了美国FIPS 140-2体系及该体系对芯片安全性提出的要求;西班牙APPLUS+ LGAI实验室认证测评专家Alexis Bouquet博士与嘉宾们深入探讨了目前国际公认最难，含金量最高的Common Criteria信息安全认证体系，并从认证体系出发，探讨了侵入式分析，错误注入分析等核心攻击技术;荷兰Riscure公司介绍了激光脆弱性错误注入技术在欧洲研究现状，分析原理并指出未来错误注入技术发展方向及当前实践。
十二五期间，随着金融IC卡和金融IC社保卡的大力推广，可以预见到密码芯片分析和测评技术的发展及运用将进入一个快速发展的阶段。此次论坛的顺利召开，将对密码芯片分析和测评技术的快速发展起到积极的作用。
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