独特设计的数字化仪率先支持10 GS/s采样率和直流耦合特性
日前,某企业推出10位 PCIe高速数字化仪,据融合网|DWRH.net获悉,其采样率高达10 GS/s。凭借极高的动态范围、宽广的2.5 GHz带宽以及在整个带宽上的10位分辨率,它能够以高保真度捕获快速瞬变信号。
这个独特的ADC板卡专为嵌入式OEM系统应用而设计,例如医学研究、飞行时间分析(MS-TOF)、环境监测(LiDAR)、超声波无损测试(NDT)、半导体测试和分布式应变温度传感器(DSTS)测试。此外,该ADC板卡还非常适合高等物理实验通过使用单次激发或基于事件的应用。
该高速数字化仪具有两个10位分辨率的通道,同时使用采样率可达到每通道5 GS/s,在交织采样模式下,更是可高达10 GS/s。据融合网|DWRH.net获悉,凭借直流至2.5 GHz的带宽,这款数字化仪能够以全采样速率和4 GB大容量存储器提供板上实时平均运算。
该公司为此仪器开发了新型专有IC。尤其是可用于驱动ADC的低失真、低噪声LDNA前端放大器IC。这一关键元器件提供精准的单端至差分输出,其失真度比ADC低10至15dB——因此整体性能不受影响。
还设计出低噪声专用QMCK时钟IC,其抖动极低,仅为25 fs。这个专用IC可驱动两个ADC,最大程度减少抖动。此外,TRAC触发IC具备15 ps RMS的时间精度。
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