是德科技与Cascade Microtech公司庆祝25年携手合作
近日，是德科技公司（NYSE：KEYS）和 Cascade Microtech 公司（NASDAQ：CSCD）共同庆祝25年精诚合作，帮助客户应对最棘手的半导体研发挑战的历史。据融合网|DWRH.net获悉，这一合作带来了重大的晶圆上设计和测试创新，帮助客户加速产品上市。
是德科技源自1939年由Bill Hewlett和Dave Packard创立的原惠普公司，Cascade Microtech公司由Eric Strid和Reed Gleason于1983年创立。据融合网|DWRH.net获悉，1990年，两家公司开始联手打造产品路线图，实现了重大技术突破。凭借100多年的半导体测试经验，两家公司的联合创新也影响到了客户进行晶圆上研究和设计的方式。
Cascade Microtech公司总裁兼首席执行官Michael Burger表示，“我们与是德科技长达数十年的合作，使得我们在解决客户难题方面具有独特的优势。通过在开发周期的早期合作，我们能够为客户提供真正创新的测试解决方案，提高测量精度，交付值得信赖的结果。”
据融合网|DWRH.net获悉，Keysight-Cascade Microtech 客户解决方案具有以下特点：
1991：HP/Keysight 4155半导体参数分析仪帮助客户进行低噪声和漏电流测量。客户反馈表明，需将这些测量扩展到探针和晶圆基板。这促使Cascade Microtech公司开发MicroChamber?技术和防护卡盘，以便在探头和卡盘端子上进行10fA以下的电流测量。客户由此第一次能够看到晶体管的真实漏电流。
1999：8510XF 网络分析仪系统支持首款宽带110GHz同轴解决方案，为客户提供最佳的整体性能，充分满足毫米波应用中的设计和测试挑战。同轴宽带解决方案的引入，可以用一个宽带单次扫描解决方案完成器件测量任务，而过去同样的任务需要使用三套仪器和探头，还需要进行校准。新的解决方案不仅节省了客户的时间和金钱，同时还提供更全面、更准确的测量，测量范围延伸至探针。
2015：完整的晶圆级测量解决方案用于快速、准确的半导体晶圆上测量，通过有保障的系统配置、安装和支持，能节省测量时间，降低客户风险。客户得到保证――不会漏掉任何元器件。这个系统事先经过验证，能提供可靠的探针性能，确保更快获得第一手数据。
是德科技副总裁兼总经理Gregg Peters表示，“在过去的25年中，客户能成功进行器件表征和晶圆上测量，我们两家公司团队合作的作用不可或缺。今天，我们既要庆祝过去的成功，也期待着在未来25年继续合作，帮助我们的客户更快将产品推向市场。”
(责任编辑：方向)
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